γ能谱测量法：通过测量钨辐射的γ射线能量分布，确定钨的种类和含量。
X 射线荧光分析法：利用 X 射线激发钨原子，产生荧光 X 射线，根据荧光 X 射线的特征能量和强度，分析钨的含量。
中子活化分析法：利用中子照射钨样品，使其发生核反应，产生放射性同位素，通过测量放射性同位素的衰变特性，分析钨的含量。
电感耦合等离子体质谱法：将钨样品溶解后，通过电感耦合等离子体将钨离子化，然后用质谱仪测量钨离子的质量和强度，分析钨的含量。
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