X 射线衍射（XRD）：用于确定晶体结构和物相组成。
扫描电子显微镜（SEM）：可观察样品的表面形貌和微观结构。
热重分析（TGA）：测量样品在加热过程中的质量变化，用于分析热稳定性。
差示扫描量热法（DSC）：研究样品的热性能，如相变温度和热焓。
傅里叶变换红外光谱（FTIR）：分析样品的化学键和官能团。
拉曼光谱：提供关于分子振动和结构的信息。
原子力显微镜（AFM）：用于高分辨率的表面形貌成像。
X 射线光电子能谱（XPS）：分析表面元素组成和化学状态。
动态力学分析（DMA）：测量材料的机械性能随温度或频率的变化。
比表面积和孔径分析：了解样品的表面积和孔隙结构。
