位受控检测是一种用于检测数字电路中单个位的状态的测试方法。它通常用于集成电路的测试和故障诊断。
在位受控检测中，测试系统会向被测试的电路施加特定的输入信号，并观察输出信号的状态。通过比较预期的输出信号和实际的输出信号，可以确定电路中是否存在故障。
位受控检测可以检测数字电路中的各种故障，例如短路、开路、逻辑错误等。它可以帮助工程师快速定位故障，并采取相应的修复措施。
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