X 射线衍射法：通过分析 X 射线在晶体中的衍射图案，确定位错的存在和排列情况。
电子显微镜法：利用电子束与样品相互作用产生的图像，直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜法：通过检测探针与样品表面之间的相互作用力，绘制出位错的图像。
正电子湮没法：利用正电子与晶体中的缺陷相互作用，探测位错的存在和分布。
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中析研究所
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