位错线张力的检测方法主要有以下几种： 1. 原子力显微镜（AFM）：可以直接观察到位错线的存在和形态，从而测量其张力。 2. X 射线衍射（XRD）：通过分析晶体结构的变化来间接测量位错线张力。 3. 透射电子显微镜（TEM）：能够观察到位错线的微观结构，从而确定其张力。 4. 分子动力学模拟：通过计算机模拟来计算位错线的张力。
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中析研究所
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