电子显微镜观察法：通过电子显微镜直接观察材料中的位错结构，测量位错的密度和分布。
X 射线衍射法：利用 X 射线衍射图谱分析位错对晶体结构的影响，从而推断位错速率。
原子力显微镜法：使用原子力显微镜测量材料表面的形貌和位错特征。
电阻测量法：根据位错对材料电阻的影响，通过电阻测量来间接评估位错速率。
热激活分析法：通过研究材料在不同温度下的位错运动行为，确定位错速率的激活能。
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中析研究所
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