X 射线衍射法：通过测量晶体的衍射图谱来分析位错扭曲。
电子显微镜法：利用电子束扫描样品，观察位错的形态和分布。
原子力显微镜法：可以直接测量位错的高度和形状。
光学显微镜法：适用于较大尺寸的位错扭曲检测。
中子衍射法：对材料中的位错扭曲进行无损检测。
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中析研究所
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