X 射线衍射法：通过分析衍射图谱来确定位错林的存在和特征。
电子显微镜法：可以直接观察到位错林的微观结构。
光学显微镜法：适用于对较大尺寸的位错林进行检测。
硬度测试法：通过测量材料的硬度来间接推断位错林的存在。
热分析法：利用材料的热性能变化来检测位错林。
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中析研究所
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