X 射线衍射法：通过测量晶体结构的变化来确定微应变区。
电子背散射衍射（EBSD）：用于分析晶体取向和应变分布。
原子力显微镜（AFM）：可以提供表面形貌和微观应变信息。
激光多普勒测振仪：用于测量物体的振动和应变。
拉曼光谱：可用于分析材料的分子结构和应变。
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中析研究所
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