X 射线衍射分析：用于确定晶体结构中的微观对称要素，如对称轴、对称面等。
电子衍射分析：可以提供更详细的微观对称信息，适用于纳米尺度的材料。
光学显微镜观察：用于观察材料的微观结构和对称性。
扫描电子显微镜（SEM）：可提供高分辨率的微观图像，有助于分析微观对称要素。
透射电子显微镜（TEM）：能更深入地研究材料的微观结构和对称性。
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中析研究所
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