电学性能测试：包括电流-电压特性、电容-电压特性、电阻等的测量，用于评估微电子器件的电学性能。
光学性能测试：如发光二极管的发光强度、波长等的测量，用于研究微电子器件的光学特性。
可靠性测试：包括热循环测试、湿度测试、振动测试等，用于评估微电子器件在不同环境条件下的可靠性。
材料分析测试：如 X 射线衍射、扫描电子显微镜等，用于分析微电子器件的材料结构和成分。
失效分析测试：通过对失效器件的分析，找出失效原因，为改进器件设计和制造工艺提供依据。
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中析研究所
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