光学显微镜检测：通过光学显微镜观察材料表面的微观结构，可发现网眼状位错的存在。
电子显微镜检测：利用电子显微镜的高分辨率，更清晰地观察网眼状位错的形态和分布。
X 射线衍射检测：分析材料的晶体结构，确定网眼状位错对晶体结构的影响。
扫描探针显微镜检测：可以直接测量材料表面的原子级结构，包括网眼状位错。
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中析研究所
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