X 射线衍射法：通过分析材料的衍射图谱，确定位错的存在和类型。
电子显微镜观察：直接观察材料中的位错结构。
化学腐蚀法：利用腐蚀剂显示位错的痕迹。
磁力显微镜：检测位错引起的磁场变化。
光学金相显微镜：观察位错在金相组织中的分布。
中子衍射：适用于一些特殊材料的位错检测。
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中析研究所
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