X 射线光电子能谱（XPS）：通过测量样品表面发射的光电子能量，确定元素的外层电子组态。
俄歇电子能谱（AES）：利用俄歇电子的能量和强度来分析元素的外层电子组态。
紫外光电子能谱（UPS）：适用于研究分子和固体的价电子结构，包括外层电子组态。
电子能量损失谱（EELS）：通过分析电子在物质中损失的能量，获取关于外层电子组态的信息。
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中析研究所
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