原始晶粒检测是指对材料样品中的晶粒进行检测和分析，从而了解晶粒的尺寸、形状和分布。
常用的原始晶粒检测方法包括：
1. 金相显微镜观察：通过金相显微镜观察材料的组织结构，可以直观地判断晶粒的尺寸和形状。
2. 扫描电子显微镜（SEM）观察：利用SEM对材料进行表面观察，可以获取高放大倍数下的晶粒形貌信息。
3. 光学显微镜观察：使用光学显微镜观察材料薄片，可以得到晶粒的相对尺寸和分布。
4. 显微硬度测试：利用显微硬度测试仪对材料进行硬度测试，通过测定晶粒的显微硬度来推测晶粒的尺寸。
5. X射线衍射（XRD）分析：通过对材料进行XRD分析，可以获得晶粒的晶体结构和晶格常数。
6. 原子力显微镜（AFM）观察：使用AFM对材料表面进行观察，可以获取nm级别的晶粒尺寸和形貌信息。
7. 声发射检测：通过监测材料在外部应力加载下产生的声波信号，可以间接推测晶粒尺寸。
8. 全息干涉术：利用全息干涉术对材料进行观察，可以得到晶粒的三维形貌信息。
