X 射线检测：可用于检测无反射结构的内部缺陷、裂纹等。
超声波检测：适用于检测无反射结构的厚度、缺陷等。
磁粉检测：可检测无反射结构表面或近表面的缺陷。
渗透检测：用于检测无反射结构表面开口缺陷。
光学显微镜检测：可观察无反射结构的微观组织和表面形貌。
电子显微镜检测：提供更高分辨率的微观结构信息。
热成像检测：检测无反射结构的温度分布，发现异常热点。
激光扫描检测：可快速获取无反射结构的三维形状和表面特征。
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中析研究所
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