电子显微镜观察法：通过电子显微镜观察材料中的位错结构和分布，确定位错作用范围。
X 射线衍射法：利用 X 射线衍射技术分析材料的晶体结构，推断位错的存在和作用范围。
原子力显微镜法：使用原子力显微镜直接观察材料表面的位错特征和作用范围。
光学显微镜观察法：在光学显微镜下观察材料的组织结构，对位错作用范围进行初步判断。
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中析研究所
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