X 射线衍射法：通过测量晶体对 X 射线的衍射图谱，分析位错中心的结构和分布。
电子显微镜法：利用电子束对样品进行成像，直接观察位错中心的形态和位置。
原子力显微镜法：通过测量探针与样品表面之间的相互作用力，绘制出位错中心的图像。
扫描隧道显微镜法：利用隧道电流对样品表面进行扫描，获取位错中心的信息。
光学显微镜法：在特定条件下，可以观察到位错中心的存在。
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中析研究所
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