电子显微镜观察：通过电子显微镜直接观察位错气团的形态和分布。
X 射线衍射：利用 X 射线衍射技术分析晶体结构，间接推断位错气团的存在。
中子衍射：类似于 X 射线衍射，但对轻元素更敏感，可提供更详细的结构信息。
原子力显微镜：用于检测表面形貌和微观结构，可观察到位错气团的存在。
电阻率测量：位错气团会影响材料的电阻率，通过测量电阻率的变化来间接检测。
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中析研究所
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