X 射线衍射法：通过分析晶体的衍射图谱，确定位错的类型和密度。
电子显微镜法：直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜法：测量位错周围的表面形貌和应力分布。
正电子湮没谱法：检测位错附近的缺陷和空位。
电阻率测量法：根据位错对电阻率的影响来推断位错的存在。
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中析研究所
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