X 射线衍射分析：用于确定矿石的晶体结构和矿物组成。
扫描电子显微镜（SEM）：可观察矿石的微观结构和表面特征。
能谱分析（EDS）：用于分析矿石中的元素组成。
热重分析（TGA）：测定矿石在加热过程中的质量变化。
X 射线荧光光谱分析（XRF）：快速分析矿石中的多种元素。
红外光谱分析：鉴定矿石中的官能团和化学键。
化学分析：如滴定法、重量法等，用于测定特定元素的含量。
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中析研究所
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