X 射线衍射法：通过测量晶体对 X 射线的衍射图案，分析材料的晶体结构和取向。
中子衍射法：利用中子与原子核的相互作用，研究材料的晶体结构和磁结构。
电子背散射衍射法：通过测量电子在晶体中的散射图案，确定晶体的取向和织构。
超声波检测法：利用超声波在材料中的传播特性，检测材料的内部缺陷和组织结构。
光学显微镜法：通过观察材料的微观结构，分析其晶体取向和缺陷。
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中析研究所
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