X 射线衍射法：用于检测外延层的晶体结构和结晶质量。
扫描电子显微镜：可观察外延层的表面形貌和微观结构。
原子力显微镜：用于测量外延层的表面粗糙度和厚度。
光致发光谱：检测外延层的光学性能和杂质浓度。
霍尔效应测量：确定外延层的载流子浓度和迁移率。
二次离子质谱：分析外延层中的元素组成和杂质分布。
全站搜索
中析研究所
- 北京总部: 北京市丰台区航丰路8号院1号楼1层121
- 山东分部: 山东省济南市历城区唐冶绿地汇中心36号楼
- 联系在线工程师
- 网站首页 : https://www.yjsshier.com/