再弥散检测是一种常用的表征材料微观结构的方法，通常用于研究材料的粒径分布和粒子形状等参数。以下是常见的再弥散检测方法：
1. 激光粒度分析法：该方法利用激光的穿透和散射特性，测量材料颗粒的大小和分布。通过分析样品中散射光的强度和角度，可以得到粒径分布曲线和平均粒径。
2. 比表面积测定法：这种方法通过测量材料比表面积来评估材料的细度。常用的测定方法包括气相吸附法和液相吸附法等，通过吸附剂与样品接触，并测量吸附剂的吸附量，然后计算材料的比表面积。
3. 成像分析法：这种方法使用电子显微镜或光学显微镜等成像设备，观察和分析材料的微观结构。通过观察颗粒形状、聚集程度和大小等特征，可以对材料的再散射性进行评估。
