X 射线衍射分析：用于确定吸附剂的晶体结构和组成，以及吸附过程中可能发生的结构变化。
红外光谱分析：用于研究吸附剂表面的官能团和吸附质与吸附剂之间的相互作用。
扫描电子显微镜：用于观察吸附剂的表面形貌和微观结构。
比表面积和孔径分布分析：用于确定吸附剂的比表面积和孔径分布，以及吸附质在吸附剂中的扩散和吸附行为。
热重分析：用于研究吸附剂的热稳定性和吸附过程中的热效应。
拉曼光谱分析：用于研究吸附剂表面的化学结构和吸附质与吸附剂之间的化学键合。
核磁共振分析：用于研究吸附剂表面的化学环境和吸附质与吸附剂之间的相互作用。
色谱分析：用于分离和分析吸附质在吸附剂上的吸附和解吸行为。
原子力显微镜：用于观察吸附剂的表面形貌和微观结构，以及吸附质在吸附剂上的吸附行为。
电化学分析：用于研究吸附剂的电化学性质和吸附过程中的电子转移行为。
