X 射线检测：利用 X 射线穿透物体，根据物体对 X 射线的吸收和散射情况来检测内部结构和缺陷。
超声波检测：通过发射超声波并接收反射波，来检测物体内部的缺陷和结构。
磁粉检测：利用磁粉在磁场中的分布情况，检测物体表面和近表面的缺陷。
渗透检测：将渗透剂涂在物体表面，通过观察渗透剂的渗透情况来检测表面开口缺陷。
射线检测：利用射线的穿透能力和衰减特性，检测物体内部的结构和缺陷。
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中析研究所
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