X 射线衍射法：通过测量样品对 X 射线的衍射图案，分析晶体结构和取向。
电子背散射衍射（EBSD）：利用电子束在晶体中的衍射现象，确定晶体取向。
极图分析法：通过测量晶体在不同方向上的衍射强度，绘制极图来分析取向。
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中析研究所
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