位错偶检测可以采用电子显微镜技术，如透射电子显微镜（TEM）或扫描电子显微镜（SEM）。这些方法可以直接观察位错偶的形态和分布。
X 射线衍射技术也可用于位错偶检测，通过分析衍射图谱来确定位错偶的存在和特征。
原子力显微镜（AFM）可以提供高分辨率的表面形貌图像，有助于检测位错偶。
位错偶的检测还可以通过光学显微镜结合特殊的染色或蚀刻技术来实现。
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中析研究所
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