电子显微镜检测：通过电子显微镜观察材料的微观结构，可直接观察到位错的存在和分布。
X 射线衍射检测：利用 X 射线衍射技术分析材料的晶体结构，间接推断位错的存在。
原子力显微镜检测：可以测量材料表面的形貌和物理性质，有助于检测位错。
光学显微镜检测：在某些情况下，可通过光学显微镜观察材料的组织结构来发现位错。
正电子湮没技术：用于研究材料中的缺陷，包括位错。
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中析研究所
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