电子显微镜检测：利用电子束照射样品，通过电子与样品的相互作用来获取微观粒子的信息。
X 射线衍射检测：通过测量 X 射线在晶体中的衍射图案，分析晶体结构和微观粒子的排列。
扫描隧道显微镜检测：利用针尖与样品表面的隧道电流来获取微观粒子的形貌和结构信息。
原子力显微镜检测：通过测量针尖与样品表面的相互作用力来获取微观粒子的形貌和结构信息。
光谱检测：利用微观粒子对光的吸收、发射或散射等特性，通过光谱分析来获取微观粒子的信息。
质谱检测：通过测量微观粒子的质量和电荷比来获取微观粒子的信息。
中子散射检测：利用中子与微观粒子的相互作用来获取微观粒子的结构和动力学信息。
