扫描电子显微镜（SEM）：用于观察样品表面的微观形貌和结构。
透射电子显微镜（TEM）：可用于分析样品的微观结构和晶体结构。
原子力显微镜（AFM）：能够测量样品表面的形貌和力学性质。
X 射线衍射（XRD）：用于确定样品的晶体结构和相组成。
红外光谱（IR）：可分析样品中的化学键和官能团。
拉曼光谱：用于研究分子的振动和转动模式。
荧光光谱：检测样品的荧光特性。
热重分析（TGA）：测量样品在加热过程中的质量变化。
差示扫描量热法（DSC）：分析样品的热性能。
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中析研究所
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