X 射线衍射法：通过分析材料的晶体结构，测量外压应力引起的晶格应变。
电子背散射衍射法：利用电子束在晶体中的衍射现象，确定晶体取向和外压应力。
纳米压痕法：通过测量微小压痕的尺寸和形状，推算外压应力。
光弹性法：利用材料的光学性质，观察外压应力引起的光弹性效应。
应变片法：在材料表面粘贴应变片，测量外压应力引起的应变。
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中析研究所
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