1. 光学显微镜：用于观察支架组件表面的细微结构和缺陷。
2. 三坐标测量机：用于测量支架组件的尺寸、形状和位置精度。
3. 金相显微镜：用于对支架组件进行金相分析，观察组织结构、晶粒大小等。
4. 扫描电子显微镜（SEM）：用于高分辨率观察支架组件表面的微观结构和形貌。
5. 压力试验机：用于对支架组件进行压力、弯曲等力学性能测试。
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中析研究所
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