1. 光学显微镜：用于观察晶体的形貌和颜色等外观特征，提供初步的判断。
2. X射线衍射仪（XRD）：通过射线与晶体相互作用，获得其衍射图谱，进而确定晶体的晶型、晶体学参数和结构信息。
3. 扫描电子显微镜（SEM）：用于观察晶体表面形貌，提供更详细的形态描述和微观特征分析。
4. 能谱仪：结合扫描电子显微镜，用于对晶体样品进行能谱分析，确定元素组成。
5. 热差示扫描仪（DSC）：测量晶体在升温或降温过程中吸热或放热的情况，得到热分析曲线，分析晶体的热性质。
6. 热重分析仪（TGA）：测量晶体在升温或降温过程中的质量变化情况，分析晶体的热分解、热稳定性等。
7. 红外光谱仪（FTIR）：通过测量晶体对红外辐射的吸收情况，得到红外光谱图谱，分析晶体的官能团和化学结构。
8. 紫外-可见分光光度计（UV-Vis）：用于测量晶体在紫外到可见光波段的吸收情况，分析晶体的电子结构和颜色特性。
9. 稳定性试验仪：用于测试晶体在特定条件下的稳定性，例如湿热稳定性、光稳定性等指标。
