1. 粉末颗粒度仪：
用于检测锗粉的颗粒大小及分布情况，通过测量颗粒的粒径来确定粉末的粒度。
2. 电子显微镜（SEM）：
利用电子束与物质相互作用的原理，观察锗粉的表面形貌，可以检测粉末的颗粒形状、表面结构等。
3. X射线衍射仪（XRD）：
通过测量锗粉样品对入射X射线的衍射情况，可以确定锗粉的晶体结构、晶格参数等信息。
4. 热重分析仪（TGA）：
用于测定锗粉的热稳定性和热分解特性，可以得到锗粉的热性能参数。
5. 红外光谱仪（IR）：
通过测量锗粉样品在红外辐射下的吸收、散射和透射等特性，可以获得锗粉的红外光谱信息。
