振膜结构检测-检测仪器
1. 显微镜:用于观察振膜表面的细微结构和形态。
2. 扫描电子显微镜(SEM):通过扫描样品表面的电子束,获得高分辨率的振膜表面形貌图像。
3. 原子力显微镜(AFM):利用微小的探针探测振膜表面的形貌和纳米级的细节。
4. 压电传感器:用于测量振膜的压力变化。
5. 反射光谱仪:通过测量材料的反射光谱,获取振膜的光学特性。
6. 振动台:用于模拟振动环境,测试振膜的耐振性能。
7. 力传感器:用于测量振膜的力学特性,例如弯曲刚度、屈服强度等。
8. 外形度量仪:用于测量振膜的尺寸、形状和平整度。