一种用于锗粒检测的常见仪器是粒度分析仪。粒度分析仪可以测量和分析锗粒的粒径大小和分布情况。它采用不同的测量方法，如激光衍射法或电阻式传感器，在流体中测量颗粒的散射或通过颗粒滑过传感器来测量粒径。
另一种用于锗粒检测的仪器是多功能显微镜。它可以在高放大倍数下观察和检测锗粒的形态、颜色、结构等特征。多功能显微镜通常配备了不同的光学镜头和滑台，以提供多种观察模式和样品处理方式。
一种常见的锗粒检测仪器是化学成分分析仪。通过将锗粒样品置于仪器中进行化学反应或测试，可以确定锗粒的化学成分和杂质含量。这种仪器常常使用的分析方法有X射线荧光光谱仪、光谱仪、电化学分析仪等。
其他常用于锗粒检测的仪器还包括密度仪、热分析仪、X射线衍射仪等。密度仪可以测量锗粒的密度，热分析仪可以分析锗粒的热行为和热性质，X射线衍射仪可以确定锗粒的晶体结构和晶体形态。
