1. 磁滞回线测试仪：用于测量正铁氧体的磁滞回线特性。
2. 磁性测量系统：可测量正铁氧体的磁化曲线，包括饱和磁感应强度、剩余磁感应强度和矫顽力等。
3. X射线衍射仪：可以确定正铁氧体晶体结构、晶格常数、晶体畸变等。
4. 扫描电子显微镜(SEM)：可以观察正铁氧体材料的表面形貌和微观结构。
5. 能谱仪：用于化学成分分析，可以确定正铁氧体样品的元素组成。
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