光学显微镜：用于观察物体的微观结构，可检测到微米级别的细裂纹。
扫描电子显微镜（SEM）：能够提供高分辨率的表面图像，可检测到纳米级别的细裂纹。
X 射线衍射仪：用于分析材料的晶体结构，可检测到材料内部的细裂纹。
超声波探伤仪：利用超声波在材料中的传播特性，检测材料内部的缺陷和细裂纹。
渗透探伤剂：通过渗透剂的渗透作用，检测表面开口的细裂纹。
磁粉探伤仪：适用于检测铁磁性材料表面和近表面的细裂纹。
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中析研究所
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