X 射线荧光光谱仪：用于分析锡铅镀层的成分和厚度。
扫描电子显微镜（SEM）：可观察镀层的表面形貌和微观结构。
能量色散 X 射线光谱仪（EDS）：用于元素分析，确定镀层中的元素组成。
原子力显微镜（AFM）：用于测量镀层的表面粗糙度和形貌。
电化学测试系统：可进行镀层的腐蚀性能测试。
热重分析（TGA）：用于研究镀层的热稳定性。
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中析研究所
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