稀缺材料检测-检测仪器
电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS):可用于检测多种元素,包括稀有金属和贵金属。
X 射线荧光光谱仪(XRF):适用于检测材料中的元素组成。
电子探针(EPMA):可进行微区成分分析。
原子吸收光谱仪(AAS):常用于金属元素的定量分析。
扫描电子显微镜(SEM):用于观察材料的微观结构和表面形貌。
透射电子显微镜(TEM):可提供更高分辨率的微观结构信息。
热重分析(TGA):用于研究材料的热稳定性和分解过程。
差示扫描量热仪(DSC):可测量材料的热性能。
红外光谱仪(IR):用于分析材料的化学键和官能团。
拉曼光谱仪:可提供材料的分子结构信息。