X 射线衍射仪：用于确定硒化镓的晶体结构和晶格参数。
扫描电子显微镜（SEM）：可用于观察硒化镓的表面形貌和微观结构。
能谱仪（EDS）：用于分析硒化镓中的元素组成。
电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）：可对硒化镓中的痕量元素进行高精度分析。
拉曼光谱仪：用于研究硒化镓的分子结构和化学键。
紫外-可见分光光度计：可用于测量硒化镓的光学性质，如吸收光谱和带隙。
热重分析（TGA）：用于研究硒化镓的热稳定性和分解行为。
差示扫描量热仪（DSC）：可测量硒化镓的相变温度和热焓变化。
霍尔效应测试仪：用于测量硒化镓的电学性质，如载流子浓度和迁移率。
