电子显微镜：用于观察位错的形态和分布。
X 射线衍射仪：可分析晶体结构和位错密度。
原子力显微镜：能够提供高分辨率的表面形貌和位错信息。
扫描隧道显微镜：用于研究位错在原子尺度上的行为。
中子衍射仪：可检测位错对晶体结构的影响。
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中析研究所
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