X 射线检测仪：用于检测物体内部结构和缺陷，可检测金属、塑料、陶瓷等材料。
超声波检测仪：利用超声波在物体中的传播和反射特性，检测物体内部的缺陷和结构。
磁粉检测仪：通过施加磁场和磁粉，检测物体表面和近表面的缺陷。
渗透检测仪：利用渗透剂渗透到物体表面的缺陷中，然后通过显像剂显示缺陷。
涡流检测仪：利用涡流效应检测物体表面和近表面的缺陷。
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中析研究所
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