电子探针 X 射线微区分析仪：用于分析伪二元合金中元素的分布和含量。
X 射线衍射仪：用于确定伪二元合金的晶体结构和相组成。
扫描电子显微镜：用于观察伪二元合金的微观结构和表面形貌。
能谱仪：与扫描电子显微镜配合使用，用于分析伪二元合金中元素的种类和含量。
原子吸收光谱仪：用于检测伪二元合金中特定元素的含量。
电感耦合等离子体发射光谱仪：可同时分析多种元素，用于伪二元合金的成分分析。
热重分析仪：用于研究伪二元合金在加热过程中的质量变化，了解其热稳定性。
差热分析仪：用于分析伪二元合金在加热过程中的热效应，确定其相变温度等。
