韦斯磁畴检测常用的仪器是磁力显微镜（Magnetic Force Microscope，MFM）。
MFM 是一种高分辨率的表面分析技术，它可以用来检测磁性材料表面的磁畴结构。
它的工作原理是利用一个微小的磁性探针在样品表面扫描，通过检测探针与样品之间的磁力相互作用来获取样品表面的磁畴信息。
MFM 可以提供高分辨率的磁畴图像，并且可以对磁畴的大小、形状、方向等进行定量分析。
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