X 射线衍射仪：用于分析微晶结构的晶体结构、晶格参数、晶体取向等信息。
扫描电子显微镜：可观察微晶的表面形貌、颗粒大小、形状等微观结构特征。
透射电子显微镜：提供更高分辨率的微晶结构图像，可用于研究微晶的内部结构和晶体缺陷。
原子力显微镜：用于测量微晶表面的形貌和粗糙度，以及研究微晶的力学性质。
拉曼光谱仪：通过分析微晶的拉曼散射光谱，获取有关微晶结构、化学键和分子振动等信息。
红外光谱仪：可用于检测微晶中的官能团和化学键，提供关于微晶结构和组成的信息。
热重分析/差热分析：用于研究微晶的热稳定性、相变行为和化学反应等。
电子顺磁共振谱仪：可检测微晶中的自由基和未成对电子，提供有关微晶结构和电子性质的信息。
穆斯堡尔谱仪：用于研究微晶中的铁、锡等元素的化学状态和晶体结构。
X 射线光电子能谱仪：分析微晶表面的元素组成、化学状态和化学键等信息。
