光学显微镜：用于观察材料表面的微观结构，可检测到微米级别的裂纹。
电子显微镜：能够提供更高分辨率的图像，可检测到纳米级别的裂纹。
扫描电子显微镜（SEM）：可以对样品进行高分辨率成像，同时还能进行成分分析。
原子力显微镜（AFM）：适用于检测纳米级别的表面形貌和微观结构。
X 射线衍射仪：用于分析材料的晶体结构，可检测到裂纹对晶体结构的影响。
超声波探伤仪：利用超声波在材料中的传播特性，检测材料内部的裂纹和缺陷。
渗透探伤剂：通过渗透剂的渗透作用，检测表面开口的裂纹。
磁粉探伤仪：适用于检测铁磁性材料表面和近表面的裂纹。
涡流探伤仪：利用涡流效应检测导电材料表面和近表面的裂纹。
