表面粗糙度仪：用于测量表面粗糙度，可检测平面、曲面等各种形状的表面。
三维形貌测量仪：可以对物体的三维形貌进行测量和分析，包括高度、坡度、曲率等参数。
激光干涉仪：用于测量物体的平整度和直线度，精度高，可检测微小的突出面。
光学显微镜：可用于观察物体的微观结构，包括表面的瑕疵、裂纹等。
扫描电子显微镜：能够提供高分辨率的表面图像，可用于检测微小的突出面和表面缺陷。
X 射线衍射仪：用于分析物体的晶体结构，可检测表面的晶体取向和缺陷。
超声波检测仪：可检测物体内部的缺陷和不均匀性，包括突出面、空洞等。
硬度计：用于测量物体的硬度，可间接反映表面的突出程度。
色差仪：用于测量物体表面的颜色差异，可检测突出面对颜色的影响。
