直探头检测是一种常见的无损检测方法，常用于检测材料内部的缺陷。以下是一些常见用于直探头检测的仪器：
1. 超声波探伤仪：用于发射超声波信号并接收回波信号，通过分析回波信号的特征，可以判断材料中的缺陷位置和尺寸。
2. 磁粉探伤仪：适用于检测表面和近表面的裂纹和疲劳损伤。在材料表面涂覆磁粉，通过观察磁粉的沉积和分布情况，可以判断是否存在缺陷。
3. X射线检测仪：通过发射X射线束照射材料，并接收透射的X射线束，通过分析透射的X射线图像，可以检测材料内的缺陷。
4. 热红外相机：利用热能辐射特性，通过观察材料的热分布图像，可以检测材料表面的热异常，以判断材料内是否存在缺陷。
5. 铁磁记号仪：适用于检测表面和近表面的裂纹和疲劳损伤。通过观察铁磁记号涂层的破损情况，可以判断是否存在缺陷。
